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日本菊水TOS5051A耐壓測(cè)試儀校準(zhǔn)方法及注意事項(xiàng)
日期：2012-10-17瀏覽：4950次
日本菊水TOS5051A耐壓測(cè)試儀校準(zhǔn)方法及注意事項(xiàng)
一、概述
安規(guī)綜合測(cè)試儀（以下簡(jiǎn)稱安規(guī)測(cè)試儀）是用來測(cè)試產(chǎn)品安全性能的主要儀器，一般有：耐壓測(cè)試，漏電流測(cè)試，接地電阻測(cè)試，絕緣電阻測(cè)試，等等。為了保證安規(guī)儀測(cè)試的準(zhǔn)確性，相應(yīng)地要對(duì)高壓輸出、漏電流測(cè)量、接地電阻測(cè)量和絕緣電阻測(cè)量等進(jìn)行校準(zhǔn)。
二、高壓輸出準(zhǔn)確度的校準(zhǔn)
1. 校準(zhǔn)方法
安規(guī)綜合測(cè)試儀輸出的高壓有交流電壓和直流電壓之分，電壓高達(dá)5000V 以上。交流電壓一般為工頻50Hz或60Hz，校準(zhǔn)包括交流電壓輸出準(zhǔn)確度和電壓波形失真。直流電壓校準(zhǔn)包括直流電壓輸出準(zhǔn)確度和電壓紋波大小。
安規(guī)綜合測(cè)試儀（以下簡(jiǎn)稱安規(guī)測(cè)試儀）是用來測(cè)試產(chǎn)品安全性能的主要儀器，一般有：耐壓測(cè)試，漏電流測(cè)試，接地電阻測(cè)試，絕緣電阻測(cè)試，等等。為了保證安規(guī)儀測(cè)試的準(zhǔn)確性，相應(yīng)地要對(duì)高壓輸出、漏電流測(cè)量、接地電阻測(cè)量和絕緣電阻測(cè)量等進(jìn)行校準(zhǔn)。
二、高壓輸出準(zhǔn)確度的校準(zhǔn)
1. 校準(zhǔn)方法
安規(guī)綜合測(cè)試儀輸出的高壓有交流電壓和直流電壓之分，電壓高達(dá)5000V 以上。交流電壓一般為工頻50Hz或60Hz，校準(zhǔn)包括交流電壓輸出準(zhǔn)確度和電壓波形失真。直流電壓校準(zhǔn)包括直流電壓輸出準(zhǔn)確度和電壓紋波大小。
安規(guī)綜合測(cè)試儀輸出的高壓通過1000:1 標(biāo)準(zhǔn)高壓分壓器接入數(shù)字多用表的電壓輸入端或失真儀輸入端。如果是交流電壓，利用數(shù)字多用表的交流電壓測(cè)試功能，測(cè)得的值再乘1000 與安規(guī)儀指示值進(jìn)行比較；利用失真儀測(cè)量電壓波形失真，失真大小不能超過規(guī)定值。如果是直流電壓，利用數(shù)字多用表的直流電壓測(cè)試功能，測(cè)得的值再乘1000 與安規(guī)儀指示值進(jìn)行比較；再利用數(shù)字多用表的交流電壓測(cè)試功能，測(cè)得的值再乘1000 即為紋波，紋波大小不能超過規(guī)定值。
產(chǎn)品分類
- 氫檢儀氣密性檢漏檢測(cè)儀
- 國(guó)產(chǎn)源表，替代keithley
- 穩(wěn)科Wayne Kerr/MICROTEST
- 體積電阻率/表面電阻測(cè)試
- 半導(dǎo)體I-V/C-V/I-R測(cè)試
- 介電常數(shù)/電導(dǎo)率測(cè)試方案
- 大眾VW80000/通用GMW3172/ISO16750標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試
- 電化學(xué)工作站/恒電位儀
- IBGT/MOSFET/SiC/GaN測(cè)試
- 電池/光伏/汽車充電樁測(cè)試
- DESCO/KLEINWACHTER靜電測(cè)試
- 體積電阻，電阻計(jì)，記錄儀
- 吉時(shí)利KEITHLEY/泰克Tektronix
- 安捷倫Agilent/是德KEYSIGHT
- 愛斯佩克ESPEC環(huán)境試驗(yàn)箱
- 普源RIGOL/致遠(yuǎn)ZLG/鼎陽SIGLENT
- Chroma致茂/EEC華儀EXTECH
- 邏輯分析儀/總線協(xié)議測(cè)試
- EMI/EMC/EMS電磁干擾兼容
- 賽默飛Thermo X射線光譜儀
- ADCMT愛德萬ADVANTEST
- 賓德BINDER試驗(yàn)箱
- 博勒飛Brookfield
- 紅外熱像儀
- 美國(guó)BK PRECISION
- 梅特勒METTLER
- 物料輪廓顏色缺料視覺篩選
- 愛色麗X-Rite/電色NIPPON
- 艾卡IKA
- 賽多利斯/奧豪斯OHAUS
- 哈希HACH/萬通Metrohm
- 金相切割/鑲嵌/研磨拋光
- ITECH艾德克斯/NGI恩智
- COSMOS氣體/鐵粉濃度計(jì)
- 羅德與施瓦茨R&S（惠美HAMEG）
- 同惠/長(zhǎng)盛/安柏
- 標(biāo)準(zhǔn)源/計(jì)量校準(zhǔn)檢定設(shè)備
- 晶圓、芯片、屏幕Particle
- 日置HIOKI/國(guó)產(chǎn)替代
- 鎖相放大器
- 噪聲/振動(dòng)/聲學(xué)測(cè)試方案
- 日本KIKUSUI/IWATSU/HIOKI
- 電聲器件測(cè)試設(shè)備
- 長(zhǎng)盛耐壓絕緣電阻安規(guī)測(cè)試
- 永磁軟磁磁通量測(cè)試
- 汽車電子標(biāo)準(zhǔn)波形可編程電源
- 安捷倫Agilent色譜質(zhì)譜GC
- SHIMAZU島津
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