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美國FLUKE LCR電橋PM6306，PM6304已停產(chǎn)替代型號(hào)MICROTEST6373
日期：2013-12-18瀏覽：2734次
美國FLUKE LCR電橋PM6306，PM6304已停產(chǎn)替代型號(hào)MICROTEST6373,MICROTEST6374,MICROTEST6375,MICROTEST6376,MICROTEST6377
福祿克Fluke數(shù)字LCR電橋PM6306是器件測(cè)量的強(qiáng)大功能及多功能性和遠(yuǎn)程編程功能的*組合。RS-232 或 IEEE-488和ComponentView測(cè)試軟件，使得福祿克數(shù)字電橋FLUKE PM6306 RCL成為了自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備的低成本解決方案，如用于制造業(yè)的器件檢查或質(zhì)量控制。操作從未如此簡單過－只需將器件連接到測(cè)試接線柱或夾具，即可馬上從LCD大顯示屏上讀得主要參數(shù)和第二參數(shù)，并查看等效電路圖。利用IEEE-488接口，RCL測(cè)試儀即成為自動(dòng)化器件測(cè)試環(huán)境的核心，每秒鐘可進(jìn)行10次測(cè)量?；蛘呃肦S-232接口，則可以從PC上簡單、經(jīng)濟(jì)的控制測(cè)試儀，用于元器件的篩選。利用分級(jí)功能，用戶可以編輯容差極限，將器件分成多達(dá)10個(gè)級(jí)別。然后將器件插入到測(cè)試固定裝置，即可直接從顯示屏上讀取指示出的級(jí)別編號(hào)。利用可選的接口，可以直接讀取級(jí)別指示或通過/失敗指示，以及外部測(cè)量觸發(fā)輸入，加速分級(jí)進(jìn)度。這些儀器的基本功能和其測(cè)試頻率和電壓電平的多樣性，使其成為商業(yè)中的兩款RCL測(cè)試儀。正如全自動(dòng)操作下顯示特征參數(shù)和等效電路圖那樣，您也可以手動(dòng)選擇其它感興趣的參數(shù)。按下按鍵鎖定器件的相位角、阻抗、Q（品質(zhì)因數(shù)）值和D（耗散因數(shù)）值。使用平均功能，則可以獲得更穩(wěn)定的讀數(shù)。為了進(jìn)行快速的器件比較，PM 6306 LCR 數(shù)字電橋還提供了偏差模式。選件豐富，從RS-232 或 IEEE-488 接口（選擇接口是PM 6306的標(biāo)準(zhǔn)配置）、直流測(cè)試功能、測(cè)量器件管理界面和Microsoft Windows ®測(cè)試軟件，直到功能強(qiáng)大的器件測(cè)量和測(cè)試工具－覆蓋了開發(fā)實(shí)驗(yàn)室到生產(chǎn)線的全部范圍。
利用ComponentView軟件，則可以從保存的文件中調(diào)取設(shè)備配置。當(dāng)Windows軟件請(qǐng)求數(shù)據(jù)時(shí)，即開始測(cè)試器件?？梢詫?shù)據(jù)進(jìn)行歸檔、分析，用作通過/失敗測(cè)試的條件，或者可以直接在屏幕上進(jìn)行繪制，直觀地分析。還可以將數(shù)據(jù)以標(biāo)準(zhǔn)的Microsoft Excel格式導(dǎo)出。利用其掃描模式，即可輕松地測(cè)試器件在不同環(huán)境范圍內(nèi)的參數(shù)。只需選擇所需的頻率或電壓范圍，ComponentView軟件將執(zhí)行測(cè)量序列。選擇電流/電壓監(jiān)測(cè)功能，可以查看在被測(cè)器件上測(cè)得的實(shí)際測(cè)試電流和電壓值。這能夠zui大程度上保護(hù)對(duì)電流敏感的元器件，并可以隨元器件的參數(shù)一起測(cè)試電流。
福祿克數(shù)字電橋FLUKE PM6306 RCL具有您所需的測(cè)試頻率，比同類的儀器具有更多的測(cè)試頻率選擇。對(duì)于測(cè)試原級(jí)功率器件，如變壓器和濾波電容，這些設(shè)備具有50和60 Hz的測(cè)試頻率，并具有100和120 Hz的紋波頻率。在100 Hz 至 20 kHz的范圍內(nèi)，兩款RCL測(cè)試儀均提供100 Hz的分辨率，用于精密地頻率表征。為了測(cè)試小電容，PM 6304 LCR 數(shù)字電橋還提供了100 kHz的頻率，而PM 6306 LCR 數(shù)字電橋的測(cè)試頻率則連續(xù)可調(diào)，直到 1 MHz。器件測(cè)試電平從2V可調(diào)，可達(dá)50 mV，保證靈敏的半導(dǎo)體結(jié)處于其門限電壓之下。從內(nèi)置源或高達(dá)40 V dc的外部源，可以添加直流偏置。利用可選的直流測(cè)試測(cè)量功能，可以測(cè)試器件的直流電阻。只需按下前面板的按鍵，即可比較器件的直流和交流電阻值。通過測(cè)量連接從阻抗，PM 6306 LCR 數(shù)字電橋可以檢查器件的連接。操作非常簡單，只需按下相應(yīng)的按鍵，就會(huì)顯示連接結(jié)果，并且您能夠確保適當(dāng)?shù)?線器件連接。
美國FLUKE LCR電橋PM6306，PM6304已停產(chǎn)替代型號(hào)MICROTEST6373,MICROTEST6374,MICROTEST6375,MICROTEST6376,MICROTEST6377
產(chǎn)品分類
- 氫檢儀氣密性檢漏檢測(cè)儀
- 國產(chǎn)源表，替代keithley
- 穩(wěn)科Wayne Kerr/MICROTEST
- 體積電阻率/表面電阻測(cè)試
- 半導(dǎo)體I-V/C-V/I-R測(cè)試
- 介電常數(shù)/電導(dǎo)率測(cè)試方案
- 大眾VW80000/通用GMW3172/ISO16750標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試
- 電化學(xué)工作站/恒電位儀
- IBGT/MOSFET/SiC/GaN測(cè)試
- 電池/光伏/汽車充電樁測(cè)試
- DESCO/KLEINWACHTER靜電測(cè)試
- 體積電阻，電阻計(jì)，記錄儀
- 吉時(shí)利KEITHLEY/泰克Tektronix
- 安捷倫Agilent/是德KEYSIGHT
- 愛斯佩克ESPEC環(huán)境試驗(yàn)箱
- 普源RIGOL/致遠(yuǎn)ZLG/鼎陽SIGLENT
- Chroma致茂/EEC華儀EXTECH
- 邏輯分析儀/總線協(xié)議測(cè)試
- EMI/EMC/EMS電磁干擾兼容
- 賽默飛Thermo X射線光譜儀
- ADCMT愛德萬ADVANTEST
- 賓德BINDER試驗(yàn)箱
- 博勒飛Brookfield
- 紅外熱像儀
- 美國BK PRECISION
- 梅特勒METTLER
- 物料輪廓顏色缺料視覺篩選
- 愛色麗X-Rite/電色NIPPON
- 艾卡IKA
- 賽多利斯/奧豪斯OHAUS
- 哈希HACH/萬通Metrohm
- 金相切割/鑲嵌/研磨拋光
- ITECH艾德克斯/NGI恩智
- COSMOS氣體/鐵粉濃度計(jì)
- 羅德與施瓦茨R&S（惠美HAMEG）
- 同惠/長盛/安柏
- 標(biāo)準(zhǔn)源/計(jì)量校準(zhǔn)檢定設(shè)備
- 晶圓、芯片、屏幕Particle
- 日置HIOKI/國產(chǎn)替代
- 鎖相放大器
- 噪聲/振動(dòng)/聲學(xué)測(cè)試方案
- 日本KIKUSUI/IWATSU/HIOKI
- 電聲器件測(cè)試設(shè)備
- 長盛耐壓絕緣電阻安規(guī)測(cè)試
- 永磁軟磁磁通量測(cè)試
- 汽車電子標(biāo)準(zhǔn)波形可編程電源
- 安捷倫Agilent色譜質(zhì)譜GC
- SHIMAZU島津
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