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基礎信息Product information

產(chǎn)品名稱：Keithley電化學工作站恒電位儀

產(chǎn)品型號：2460-EC

更新時間：2024-08-19

產(chǎn)品簡介：

Keithley電化學工作站恒電位儀2450-EC、2460-EC 和 2461-EC 操作靈活、成本低，非常適合于基本電化學實驗室研究、檢定下一代材料和電解質、新型儲能裝置以及更快更小巧傳感器的研究和開發(fā)。 這些恒電位儀包含電化學測試過程所需的一切功能，包括循環(huán)、方波或者電流伏安法、計時安培分析法和計時電勢分析法。

產(chǎn)品特性Product characteristics

      專業(yè)儀器設備與測試方案供應商——上海堅融實業(yè)有限公司JETYOO INDUSTRIAL & 堅友（上海）測量儀器有限公司JETYOO INSTRUMENTS，由堅JET和 融YOO兩位技術工程師于2011年共同創(chuàng)立。志在破舊立新！*儀器設備測試行業(yè)代理經(jīng)銷商只專業(yè)做商務銷售，不專業(yè)做售前儀器設備選型配置/測試方案系統(tǒng)搭建，不專業(yè)做售后操作使用培訓/維修校準保養(yǎng)的空白。我們的技術銷售工程師均為本科以上學歷，且均有10年以上測試行業(yè)工作經(jīng)驗，以我們*進*的經(jīng)營理念，專業(yè)為中國區(qū)用戶提供儀器設備、測試方案、技術培訓、維修服務，為上海華東地區(qū)一家以技術為導向的儀器設備綜合服務商。

Keithley電化學工作站恒電位儀

2450-EC、2460-EC 和 2461-EC 恒電位儀操作靈活、成本低，非常適合于基本電化學實驗室研究、檢定下一代材料和電解質、新型儲能裝置以及更快更小巧傳感器的研究和開發(fā)。 這些恒電位儀包含電化學測試過程所需的一切功能，包括循環(huán)、方波或者電流伏安法、計時安培分析法和計時電勢分析法。

Keithley 2450-EC電化學實驗恒電位儀，電流10fA到1A，電壓10nV到200V，功率20W

吉時利2460-EC電化學實驗儀，電流10pA到7A，電壓100nV到100V，功率100W

吉時利2461-EC恒電位儀，電流50pA到10A，電壓5nV到100V，功率100W

Keithley電化學工作站恒電位儀特點優(yōu)勢

執(zhí)行循環(huán)、方波或電流伏安法、計時安培分析法和計時電勢分析法

成本較低的恒電位儀替代方案

簡化的用戶界面

將試驗設置速度加快達 50%

在前面板上實時繪制伏安圖

加快測試分析和響應速度

分析圖光標

不使用計算機也能進行即時結果分析

內(nèi)置腳本語言

創(chuàng)建可重復使用的、可定制的實驗軟件庫

屏幕截圖功能

支持將試驗結果從顯示器復制到報告

10nV 和 10fA 測量靈敏度

可以進行低電壓和低電流測量，具有置信度

前面板輸入香蕉插孔；后面板輸入三軸連接 方便；可節(jié)約額外適配器配件的成本

上下文相關幫助功能 大限度地降低學習曲線

前面板 USB 2.0 存儲 I/O 端口

便于傳輸數(shù)據(jù)、測試腳本或進行測試

使用Model 2450-EC 或2460-EC 電化學實驗室系統(tǒng)執(zhí)行循環(huán)伏安測量

本應用指南介紹了使用2450-EC 或2460-EC 電化學實驗室系統(tǒng)，利用內(nèi)置測試腳本和電化學轉換電纜配套工具箱執(zhí)行循環(huán)伏安測量。

吉時利為電化學測試方法和應用提供的儀器

本應用指南討論了如何采用吉時利儀器進行電化學科學研究。 

The 2460-EC Graphical Potentiostat brings speed, flexibility, and simplicity right to your fingertips to perform cyclic, squarewave, or galvanic voltammetry, chronoamperometry, and chronopotentiometry. 

2461-EC Graphical Potentiostat

2450-EC Graphical Potentiostat

This application note discusses a variety of electrochemical applications, including voltammetry, low and high resistivity measurements, battery test, potentiometry, electrodeposition, electrical device characterization, and other tests that involve…